一、產(chǎn)品特點(diǎn)
溫度循環(huán)試驗(yàn)箱,可進(jìn)行升降溫速率5度以上的高溫、低溫交變環(huán)境,通過溫度循環(huán)應(yīng)力,以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障。是一種檢測(cè)材料在快速的升降溫速率環(huán)境下的耐熱、耐寒性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。
二、參照標(biāo)準(zhǔn)
GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A:低溫
GB/T 2423.2-2008第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B:高溫
GJB150.3A-2009高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4A-2009低溫試驗(yàn)方法
GJB1032-90 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法
GB2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分試驗(yàn) Nb:規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
溫度變化速率:5C/min(整個(gè)溫度變化幅度內(nèi)的平均值)。
一次循環(huán)時(shí)間:3h20min 或 4h。
溫度循環(huán)數(shù)及溫度循環(huán)試驗(yàn)時(shí)間:在缺陷剔除試驗(yàn)中,溫度循環(huán)為 10 次或 12 次,相應(yīng)試驗(yàn)時(shí)間為 40h。在無故障檢驗(yàn)中則為 10~12 次或 1224 次,時(shí)間為 40~48h。
三、技術(shù)規(guī)格
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